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Z-TRONIII射頻導納料位計采用先進的射頻導納技術，為低成本通用型點位控制儀表，適用于大多數應用場合，是射頻導納物位開關的一個重要組成部件，探頭又由測量極、保護極和絕緣層三部分組成。探桿形式可根據工況需求定制為桿式或纜式，長度和材質也均可根據特殊要求定制。連接過程部分有螺紋式和法蘭式供選擇，也可根據特殊需求定制。接線盒的外殼是由鋁合金材質鑄成，厚度符合防爆等級要求，內部裝有可見的電子模塊，接線和調試都很方便。整體的結構簡單，安裝使用方便，使用性能穩定可靠，幾乎免維護這樣就有效地提高工作效率。　　作為一款常用的物位測量儀表。它的具有體型小、結構簡單、安裝調試方便、穩定性強等優勢，通常被應用于石油、化工、電力、水泥、鋼廠等部門。　　是一種從電容式物位技術發展起來的新型物位控制技術，是對電容式物位技術的升級，具有防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的特點。要了解射頻導納的概念，我們需要先知道射頻和導納的含義。射頻即高頻無線電波譜，而導納的含義則為電學中阻抗的倒數，它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成，所以射頻導納可以理解為一種利用高頻（即射頻）電波來測量電子元件特性參數的儀表。　　射頻導納的原理　　射頻導納的原理是通過探頭感知其與儲罐體間電抗（容抗和阻抗）的變化實現物位測量和控制的。其內部電子單元，由探頭測量極與空載罐體間的電抗共同構成平衡電橋電路并產生一個穩定振蕩信號，當被測介質覆蓋探頭測量極時，會引起探頭測量極與罐體間的電抗變化導致電橋電路不平衡而停止產生振蕩信號，后級電路檢測到這一變化從而輸出報警信號。　　該振蕩信號作為射頻信號施加在探頭測量極的同時，還經過1:1的電壓跟隨器后送往探頭的保護極，測量極與保護極的射頻信號具有等電位、同相位、同頻率又互相隔離。當探頭有掛料時，測量極與保護極之間因為沒有電勢差而形成電氣隔離確保保護極的信號變化不影響檢測，使探頭測量極上電抗的變化只能由探頭測量極與罐體間的物料決定，從而使探頭上的掛料不會影響正常檢測。　　射頻導納物位控制器是使用射頻導納物位控制技術設計制作的一種新型物位測量儀表。射頻導納測量技術，簡單的說就是使用高頻電流測量系統導納的方法。點位射頻導納技術與電容技術不同，它采用了三端技術，使得測量參量多樣化。射頻導納技術由于引入了除電容以外的測量參量，尤其是電阻參量，使得儀表測量信號信噪比提高，從而大幅度提高了儀表的分辨力、準確性和可靠性；測量參量的多樣性也有力地拓展了儀表的可靠應用領域。使得產品防掛料（傳感器粘附之物料稱為掛料）性能更好、工作更可靠、測量更準確、適用性更廣的物位控制技術。　　該產品主要由傳感器模塊、電子模塊和其它一些連接器件構成。傳感器單元主要包括三部分：測量探極、屏蔽極及接地端。被測物料的高度反映為測量探極與容器壁間導納的變化情況，當物料到達開關工作點時，電子單元作出反應，驅動繼電器動作，輸出開關信號。屏蔽極可防止由于電極上有掛料而產生誤動作信號，僅當物料真正達到設置點時，才輸出開關控制信號。

AMETEK Z4-3002-101  Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-101  Z-tron IV射頻導納物位開關 Z4-3002-103 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-106 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-301 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-325 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-327 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-701 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-753 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-754 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-755 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-756 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-757 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-758 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-760 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-761 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-762 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-763 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-764 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-766 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-767 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-768 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-769 Z-tron IV射頻導納物位開關Z4-3002-770 Z-tron IV射頻導納物位開關